Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych - Bolesław Niemierko(red.) - książka wyd. 2003
4,04 zł 40,00 zł
tezeusz.pl Zobacz w sklepie Opis
Publikacja zawiera materiały na IX Krajową Konferencję z cyklu „Diagnostyka Edukacyjna”, Łódź, wrzesień 2003 roku.
W części teoretycznej zamieszczone są teksty przekazujące nową wiedzę o problematyce pomiaru, porządkującą pojęcia oraz dające przykłady modeli i metod badawczych. W części szczegółowej materiały koncentrują się wokół zagadnień trafności egzaminowania, motywacji ucznia i etyki egzaminatora.
